韋林工業(yè)內窺鏡搭載了業(yè)內先進(jìn)的測量方法，具體包括：?jiǎn)挝镧R的三維立體相位掃描測量3DPM、和三維立體雙物鏡測量技術(shù)3DPM。工業(yè)內窺鏡搭載3D相位掃描測量法可生成真正意義上的三維還原圖，可有效降低測量選點(diǎn)誤差，比傳統雙物鏡測量法優(yōu)越。

使用工業(yè)內窺鏡進(jìn)行檢測并對缺陷進(jìn)行測量時(shí)，檢測人員往往需要在圖像上選點(diǎn)，然后再進(jìn)行長(cháng)度測量、距離測量等操作。傳統雙物鏡測量，因為被檢對象結構的復雜性以及視覺(jué)誤差等諸多因素，容易出現人為選點(diǎn)誤差，從而造成測量結果有較大的偏差。而3D相位掃描測量法的測量探頭與常規探頭不同，探頭與鏡頭內置光柵電學(xué)連接，3D相位測量技術(shù)通過(guò)光柵掃描被測物表面，獲取3D相位測量圖像，確定每個(gè)點(diǎn)的唯一坐標，并在后臺可建立3D點(diǎn)云圖形及深度圖，可通過(guò)點(diǎn)云圖判斷打點(diǎn)的位置，從而大大降低了人為選點(diǎn)失誤的概率。

如下圖所示，為傳統雙物鏡測量葉片邊緣掉塊的示意圖。為了保證測量精度，通常在盡可能靠近葉片邊緣處選點(diǎn)。圖中選點(diǎn)看似準確，應該是選在該級葉片上，但實(shí)際情況是選在了發(fā)動(dòng)機機匣上，構成了空間的點(diǎn)到線(xiàn)測量，造成了測量誤差。這種情況在采用傳統雙物鏡測量法時(shí)難免發(fā)生，肉眼難以分辨，測量結果自然不準確。

采用3D技術(shù)可以解決這一問(wèn)題。針對上述情況，如果采用3D相位測量技術(shù)，可以構建3D點(diǎn)云圖形，并協(xié)助判斷打點(diǎn)位置，如下圖所示，可以看出之前所選的靠下位置的點(diǎn)已經(jīng)脫離該級葉片的表面，實(shí)現上是位于下一級葉片上。糾正后的正確選點(diǎn)位置如圖中綠色線(xiàn)條所示，通過(guò)及時(shí)發(fā)現選點(diǎn)誤差并加以修正，從而得到正確的測量結果。

韋林工業(yè)內窺鏡Mentor Visual iQ，不僅支持單物鏡的三維立體相位掃描測量，也支持三維立體雙物鏡測量技術(shù)，這在業(yè)內其他同類(lèi)產(chǎn)品中都是做不到的。韋林工業(yè)內窺鏡搭載3D相位掃描測量法，可通過(guò)點(diǎn)云圖，精準選點(diǎn)，避免引入人為誤差，測量結果更準確！

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